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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
瞬時(shí)記憶試驗(yàn)儀
產(chǎn)品型號(hào)：EP807
產(chǎn)品概述：
瞬時(shí)記憶是指個(gè)體接觸刺激對(duì)象而產(chǎn)生感覺經(jīng)驗(yàn)后，保留短暫時(shí)間能力的一種心理品質(zhì)。這種處于未經(jīng)加工的**階段記憶模式若不予注意，存貯的信息量將很快喪失，但瞬時(shí)記憶可有助于信息的積累，為感知事物的連續(xù)性提供了可能性。
詳情介紹：
瞬時(shí)記憶試驗(yàn)儀
產(chǎn)品型號(hào)：EP807
產(chǎn)品概述：
產(chǎn)品概述：
瞬時(shí)記憶是指個(gè)體接觸刺激對(duì)象而產(chǎn)生感覺經(jīng)驗(yàn)后，保留短暫時(shí)間能力的一種心理品質(zhì)。這種處于未經(jīng)加工的**階段記憶模式若不予注意，存貯的信息量將很快喪失，但瞬時(shí)記憶可有助于信息的積累，為感知事物的連續(xù)性提供了可能性。
瞬時(shí)記憶實(shí)驗(yàn)儀采用部分報(bào)告法和全部報(bào)告法來驗(yàn)證被試的瞬時(shí)記憶效果。前者要求被試再現(xiàn)先前呈現(xiàn)的一部分指定對(duì)象數(shù)字字母，再由此估量全部呈現(xiàn)數(shù)量值；后者要求被試再現(xiàn)呈現(xiàn)過的全部對(duì)象，由此對(duì)正確數(shù)量回憶出保存量。用部分報(bào)告往往更能體現(xiàn)瞬時(shí)記憶能力的測(cè)量效果。
瞬時(shí)記憶實(shí)驗(yàn)儀采用部分報(bào)告法和全部報(bào)告法來驗(yàn)證被試的瞬時(shí)記憶效果。前者要求被試再現(xiàn)先前呈現(xiàn)的一部分指定對(duì)象數(shù)字字母，再由此估量全部呈現(xiàn)數(shù)量值；后者要求被試再現(xiàn)呈現(xiàn)過的全部對(duì)象，由此對(duì)正確數(shù)量回憶出保存量。用部分報(bào)告往往更能體現(xiàn)瞬時(shí)記憶能力的測(cè)量效果。
技術(shù)參數(shù)：
刺激方式： 數(shù)字字母4×3數(shù)碼管 隨機(jī)顯示
刺激時(shí)間： 0.01～9.99秒
應(yīng) 答 鍵： 10個(gè)（數(shù)字或字母鍵）
重 量： 1.5KG
外形尺寸： 主機(jī)300×220×70 mm3
鍵盤125×70×30 mm3
刺激方式： 數(shù)字字母4×3數(shù)碼管 隨機(jī)顯示
刺激時(shí)間： 0.01～9.99秒
應(yīng) 答 鍵： 10個(gè)（數(shù)字或字母鍵）
重 量： 1.5KG
外形尺寸： 主機(jī)300×220×70 mm3
鍵盤125×70×30 mm3
使用說明：
（一）測(cè)試前的準(zhǔn)備
1、將應(yīng)答鍵盤輸出線纜插入主機(jī)“鍵盤輸入”中，接通電源。
2、打開電源開關(guān)，主試根據(jù)測(cè)試類型A/B設(shè)定上、中、下三行數(shù)碼管的12位字母或數(shù)字，以及設(shè)置實(shí)驗(yàn)次數(shù)和刺激時(shí)間
注：設(shè)置的默認(rèn)值為刺激時(shí)間3秒，實(shí)驗(yàn)次數(shù)5次，測(cè)試類型為全部報(bào)告法（A）。
3、主試按“自檢”鍵，檢測(cè)儀器工作是否正常，檢測(cè)后，重新設(shè)置新參數(shù)。
4、按“開始”鍵，開始實(shí)驗(yàn)。
（1）部分報(bào)告法（B）：上、中、下三行數(shù)碼管將隨機(jī)顯示數(shù)字或字母，被試從左至右輸入顯示“_”（下劃線）的4位內(nèi)容，相應(yīng)地按鍵四次輸入（輸入后不得修改）。
注：在部分報(bào)告法中對(duì)某一行估計(jì)的正確量乘以3即作為全部記憶的保存量。
（2）全部報(bào)告法（A）：上、中、下三行數(shù)碼管全部隨機(jī)顯示，被試按照上中下的順序，從左至右按鍵十二次依次輸入全部12位的內(nèi)容（輸入后不得修改）。
5、根據(jù)設(shè)置要求的刺激時(shí)間和實(shí)驗(yàn)次數(shù)重復(fù)以上步驟。
6、實(shí)驗(yàn)結(jié)束，主試面板將顯示記憶正確位數(shù)及正確率的百分比。
注：按“自檢”鍵所有數(shù)碼管將均顯示為“8”，實(shí)驗(yàn)進(jìn)行中不能自檢。
7、如需重新測(cè)試，主試可按“開始”鍵，按先前設(shè)置好的參數(shù)運(yùn)行；也可按“設(shè)置”鍵，重新設(shè)置參數(shù)后按“開始”鍵進(jìn)行
（一）測(cè)試前的準(zhǔn)備
1、將應(yīng)答鍵盤輸出線纜插入主機(jī)“鍵盤輸入”中，接通電源。
2、打開電源開關(guān)，主試根據(jù)測(cè)試類型A/B設(shè)定上、中、下三行數(shù)碼管的12位字母或數(shù)字，以及設(shè)置實(shí)驗(yàn)次數(shù)和刺激時(shí)間
注：設(shè)置的默認(rèn)值為刺激時(shí)間3秒，實(shí)驗(yàn)次數(shù)5次，測(cè)試類型為全部報(bào)告法（A）。
3、主試按“自檢”鍵，檢測(cè)儀器工作是否正常，檢測(cè)后，重新設(shè)置新參數(shù)。
4、按“開始”鍵，開始實(shí)驗(yàn)。
（1）部分報(bào)告法（B）：上、中、下三行數(shù)碼管將隨機(jī)顯示數(shù)字或字母，被試從左至右輸入顯示“_”（下劃線）的4位內(nèi)容，相應(yīng)地按鍵四次輸入（輸入后不得修改）。
注：在部分報(bào)告法中對(duì)某一行估計(jì)的正確量乘以3即作為全部記憶的保存量。
（2）全部報(bào)告法（A）：上、中、下三行數(shù)碼管全部隨機(jī)顯示，被試按照上中下的順序，從左至右按鍵十二次依次輸入全部12位的內(nèi)容（輸入后不得修改）。
5、根據(jù)設(shè)置要求的刺激時(shí)間和實(shí)驗(yàn)次數(shù)重復(fù)以上步驟。
6、實(shí)驗(yàn)結(jié)束，主試面板將顯示記憶正確位數(shù)及正確率的百分比。
注：按“自檢”鍵所有數(shù)碼管將均顯示為“8”，實(shí)驗(yàn)進(jìn)行中不能自檢。
7、如需重新測(cè)試，主試可按“開始”鍵，按先前設(shè)置好的參數(shù)運(yùn)行；也可按“設(shè)置”鍵，重新設(shè)置參數(shù)后按“開始”鍵進(jìn)行
